研發(fā)平臺
• 產(chǎn)品純度和微量元素分析——化學分析法、光譜法并輔助X衍射法(XRD法)
• 產(chǎn)品粒度分布和顆粒形態(tài)——馬爾文激光粒度分析儀、電阻法顆粒計數(shù)器和圖像觀察儀
• 產(chǎn)品晶體結(jié)構、晶形檢測——X衍射法(XRD法)
• 產(chǎn)品晶體形貌和微結(jié)構——掃描電鏡分析(SEM法)
• 產(chǎn)品原子結(jié)構和缺陷——掃描隧道顯微鏡分析(STM法)
• 產(chǎn)品堆積密度——粉末綜合分析儀
• 產(chǎn)品強度分析——綜合力學分析儀
• 產(chǎn)品導熱系數(shù)-——導熱系數(shù)測試儀
聯(lián)系我們
